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粉末平均粒度測定儀的這些知識值得我們學習粉末平均粒度測定儀又稱為激光粒度儀，它利用了楊氏功率譜法(即Mie散射方法)的原理。這種方法首先由德國物理學家G.Mie在1908年提出。該方法是通過測量粒子在一個向外擴散的光束中相對的光強度而進行的。當一個單色激光入射到包含粉體的樣品池中時，被照射粉末的顆粒會發生散射現象，且每個顆粒都有所不同的方向和強度。檢測儀器會記錄下粉末中不同角度散射光線的強度分布情況。根據不同粒徑粒子對散射的強度分布的影響，可以計算得到樣品中顆粒的平均粒徑大小。粉末平均粒度測定儀功能特點：1、可以測... 查看詳情 2023-04-14
WLP-208平均粒度儀的一些具體應用 WLP-208平均粒度儀是一種用于測量顆粒大小分布的儀器。它可以用于各種顆粒材料，如粉末、顆粒、顆粒狀物質、液滴、氣溶膠和懸浮液等。基于光散射和激光多次散射。當激光束通過樣品時，光線會被顆粒散射，形成散射光。散射光的強度和顆粒的大小、形狀、折射率和濃度等因素有關。通過測量散射光的強度和角度，可以計算出顆粒的平均粒徑和粒徑分布。WLP-208平均粒度儀的一些具體應用：1.用于檢測藥物微粒的大小和分布，以確保藥品的效果和穩定性。2.用于測量顏料、涂料、粉末和乳液等的顆粒大小和分布... 查看詳情 2023-03-27
平均粒度測定儀測試條件的差異將影響粒度測試的結果平均粒度測定儀是用空氣透過原理研制的快速測定粉末顆粒平均粒徑的儀器，通稱費氏儀(Fsss)又稱費氏超細篩。是磁性材料、粉末冶金、難熔金屬、特種陶瓷、鎢鉬材料、硬質合金、有色金屬、非金屬、化工、建材功能材料及粉末研究和生產不可少的檢測手段。平均粒度測定儀測試條件的差異將影響粒度測試的結果：在實際激光粒度儀測試過程中，存在例如取樣代表性、儀器對中調節、光學參數及樣品循環參數設定，分散介質、分散劑、穩定劑的選擇和質量，樣品處理步驟等多種人為因素，以及溫度變化，電源穩定性，震動等客觀... 查看詳情 2023-02-13

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